粒子图像测速系统在进行边界层流场测量时，由于固体的壁面在激光的照射下，往往会产生很强的反光噪声，而这些反光噪声的强度远远大于示踪粒子的强度导致相机无法捕捉到示踪粒子的信号，导致贴近边壁的流场无法测量，我司技术人员通过使用激光诱导荧光的方法，将合适比重和粒径的荧光粒子来充当示踪粒子，借助相关软件和硬件的配合，在实际的测量中可以有效抑制和过滤壁面反光噪声，使得粒子图像测速（PIV）在边壁测量中变得有效可靠。（该方法同样在气液两相流的粒子图像测速中适用）
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